Metrika članka

  • citati u SCindeksu: 0
  • citati u Google Scholaru:[=>]
  • posete u prethodnih 30 dana:1
  • preuzimanja u prethodnih 30 dana:1
članak: 1 od 1  
Tehnika
2014, vol. 69, br. 1, str. 11-14
jezik rada: srpski
vrsta rada: izvorni naučni članak
doi:10.5937/tehnika1401011K


Zavisnost XPS spektra polietilena velike gustine od parametara elektronskog topa
Univerzitet u Beogradu, Institut za nuklearne nauke Vinča

Projekat

Funkcionalni, funkcionalizovani i usavršeni nano materijali (MPNTR - 45005)

Sažetak

Naelektrisavanje uzoraka pod dejstvom fotona velike energije se smatra jednim od najvećih problema pri analizi neprovodnih uzoraka u rendgenskoj fotoelektronskoj spektroskopiji. Za neutralisanje viška naelektrisanja na površini najčešće se primenjuje dodatni elektronski top. U ovom radu je metodom rendgenske fotoelektronske spektroskopije analiziran uzorak polietilena velike gustine. Ispitivan je uticaj parametara elektronskog topa, kao što su emisiona struja i ubrzavajući napon, na izgled spektra polietilena. Za optimizaciju parametara elektronskog topa posmatrani su položaj i širina pika Si2s.

Ključne reči

XPS spektar; naelektrisavanje; neutralisanje; elektronski top

Reference

Briggs, D., Seah, M.P. (1996) Practical surface analysis. Chichester: Wiley, vol. 1; 2nd edition
Cazaux, J. (2000) J Electron Spectrosc. Relat. Phenom, 113, p. 15-33
Edgell, M.J., Paynter, R.W., Castle, J.E. (1986) The use of an electron flood gun when adopting monochromatic AgLα radiation for the XPS analysis of insulators. Surface and Interface Analysis, 8(3): 113-119
Huchital, D.A. (1972) Use of an Electron Flood Gun to Reduce Surface Charging in X-Ray Photoelectron Spectroscopy. Applied Physics Letters, 20(4): 158
Hunt, C.P., Stoddart, C.T.H., Seah, M.P. (1981) The surface analysis of insulators by SIMS: Charge neutralization and stabilization of the surface potential. Surface and Interface Analysis, 3(4): 157-160
Kelly, M.A., Tyler, C.E. (1973) HP Journal, p. 2-14
Swift, P. (1982) Adventitious carbon?the panacea for energy referencing?. Surface and Interface Analysis, 4(2): 47-51
Vickerman, J.C., Gilmore, I.S. (2007) Surface analysis: The principal techniques. John Wiley and Sons, ISBN: 978-0-470-01763-0
Wagner, C.D. (1980) J Electron Spectrosc. Relat. Phenom, 18 p. 345-349