Metrika članka

  • citati u SCindeksu: 0
  • citati u CrossRef-u:0
  • citati u Google Scholaru:[=>]
  • posete u prethodnih 30 dana:0
  • preuzimanja u prethodnih 30 dana:0
članak: 1 od 1  
Tehnika
2014, vol. 69, br. 1, str. 15-18
jezik rada: srpski
vrsta rada: izvorni naučni članak
doi:10.5937/tehnika1401015P


Magnetna i optička svojstva tankog sloja nikla deponovanog GLAD metodom
Univerzitet u Beogradu, Institut za nuklearne nauke Vinča

Projekat

Funkcionalni, funkcionalizovani i usavršeni nano materijali (MPNTR - 45005)

Sažetak

U ovom radu, tanki sloj nikla je dobijen metodom deponovanja pri malim uglovima. Debljina tankog sloja je iznosila 1 μm. Podloga od stakla je postavljena na 15o u odnosu na fluks atoma nikla. Karakterizacija uzorka je vršena pomoću mikroskopa u polju atomskih sila, mikroskopa zasnovanog na magnetno-optičkom Kerovom efektu i spektroskopske elipsometrije. Na osnovu slike poprečnog presjeka uzorka, koja je dobijena mikroskopom u polju atomskih sila, potvrnena je stubičasta struktura tankog sloja nikla. Posmatrane su vrijednosti koercitivnog polja, dobijene iz magnetnih histerezisnih petlji, u funkciji rotacije uzorka u magnetnom polju. Na osnovu dobijenih rezultata se može pretpostaviti da je osa lake magnetizacije usmjerena u pravcu rasta stubića. Optička svojstva tankog sloja nikla su proučavana na talasnoj dužini λ = 455 nm. Iz oblika dijagrama za indeks prelamanja i koeficijent ekstinkcije se može zaključiti da tanki sloj nikla pokazuje optičku anizotropiju.

Ključne reči

nikl; mikroskop u polju atomskih sila; magnetna svojstva; optička svojstva

Reference

Messier, R., Gehrke, T., Frankel, C., Venugopal, V.C., Otano, W., Lakhtakia, A. (1997) J Vac. Sci. Technol, A15, p. 2148-2151
Messier, R., Venugopal, V.C., Sunal, P.D. (2000) Origin and evolution of sculptured thin films. Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films, 18(4): 1538
Popović, N., Bogdanov, Z., Goncić, B., Zec, S., Rakočević, Z. (1999) The influence of ion bombardment intensity during deposition on nickel films microstructure. Thin Solid Films, 343-344: 75-80
Potočnik, J., Nenadović, M., Jokić, B., Štrbac, S., Rakočević, Z. (2013) Structural characterization of the nickel thin film deposited by glad technique. Science of Sintering, vol. 45, br. 1, str. 61-67
Robbie, K., Brett, M.J. (1997) J Vac. Sci. Technol, A15, p. 1460-1465
Schäfer, R. (2007) Investigation of Domains and Dynamics of Domain Walls by the Magneto-optical Kerr-effect. u: Kronmuller H., Parkin S. [ur.] Handbook of Magnetism and Advanced Magnetic Materials, John Wiley & Sons
Summers, M., Djurfors, B., Brett, M. (2005) J Microlith. Microfab. Microsyst, 4, 033012-1-033012-5
Tait, R.N., Smy, T., Brett, M.J. (1993) Modelling and characterization of columnar growth in evaporated films. Thin Solid Films, 226(2): 196-201
Takadomu, J. (2008) Nanomateriaux, traitement et fonctionnalisation des surfaces. Lavoisier, p. 29
Taschuk, M.T., Hawkeye, M.M., Brett, M.J. (2010) Glancing Angle Deposition. u: Handbook of Deposition Technologies for Films and Coatings, Oxford: Elsevier Science Publishers, str. 621-678
Young, R.D. (1992) US Pat. 5092163